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簡要描述:介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀廠家實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標準試驗方法1本標準是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號;在有修訂的情況下,為上一次的修訂年號;圓括號中數(shù)字為上一次重新確認的年號。
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產(chǎn)品名稱:介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀廠家
產(chǎn)品型號:LJD-B、LJD-C、QS-37
符合標準:GB/T1409、GB/T5594
產(chǎn)品用途:固體、液體絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試
適用材料:橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等
測試范圍:10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ
主要配置:主機Q表、夾具、電感組成
測試項目:介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、介質(zhì)損耗因數(shù)、介質(zhì)損耗角正切值
使用人群:科研所、教學、質(zhì)量監(jiān)督局、軍工單位等
付款方式:全款發(fā)貨
產(chǎn)品品牌:縱橫金鼎儀器
產(chǎn)品貨期:1-3個工作日
產(chǎn)品類別:電性能檢測儀器
ASTM D150-11
實心電絕緣材料的交流損耗特性和
電容率(介電常數(shù))的標準試驗方法1
本標準是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號;在有修訂的情況下,為上一次的修訂年號;圓括號中數(shù)字為上一次重新確認的年號。上標符號(ε)表示對上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀廠家
本標準經(jīng)批準用于國防部所有機構。
1.介電常數(shù)測試儀范圍
1.1 本試驗方法包含當所用標準為集成阻抗時,實心電絕緣材料樣本的相對電容率,耗散因子,損耗指數(shù),功率因子,相位角和損耗角的測定。列出的頻率范圍從小于1Hz到幾百兆赫茲。
注1:在普遍的用法,“相對”一詞經(jīng)常是指下降值。
1.2 這些試驗方法提供了各種電極,裝置和測量技術的通用信息。讀者如對某一特定材料相關的議題感興趣的話,必須查閱ASTM標準或直接適用于被測試材料的其它文件。2,3
1.3 本標準并沒有*列舉所有的安全聲明,如果有必要,根據(jù)實際使用情況進行斟酌。使用本規(guī)范前,使用者有責任制定符合安全和健康要求的條例和規(guī)范,并明確該規(guī)范的使用范圍。特殊危險說明見7.2.6.1和10.2.1。
1 本規(guī)范歸屬于電學和電子絕緣材料ASTM D09委員會管轄,并由電學試驗D09.12附屬委員分會直接管理。
當前版本核準于2011年8月1日。2011年8月發(fā)行。原版本在1922年批準。前一較新版本于2004年批準,即為 D150-98R04。DOI:10.1520/D0150-11。
2 R. Bartnikas, 第2章, “交流電損耗和電容率測量,” 工程電介質(zhì), Vol. IIB, 實心絕緣材料的電學性能, 測量技術, R. Bartnikas, Editor, STP 926,ASTM, Philadelphia, 1987.
3 R. Bartnikas, 第1章, “固體電介質(zhì)損耗,” 工程電介質(zhì),Vol IIA, 實心絕緣材料的電學性能: 分子結(jié)構和電學行為, R. Bartnikas and R. M. Eichorn, Editors, STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983.
2.介電常數(shù)測試儀引用文件
2.1 ASTM標準:4
D374 固體電絕緣材料厚度的標準試驗方法
D618 試驗用塑料調(diào)節(jié)規(guī)程
D1082 云母耗散因子和電容率(介電常數(shù))試驗方法
D1531 用液體位移法測定相對電容率(介電常數(shù))與耗散因子的試驗方法
D1711 電絕緣相關術語
D5032 用飽和甘油溶液方式維持恒定相對濕度的規(guī)程
E104 用水溶液保持相對恒定濕度的標準實施規(guī)程
E197 室溫之上和之下試驗用罩殼和服役元件規(guī)程(1981年取消)5
3.介電常數(shù)測試儀術語
3.1 定義:
3.1.1 這些試驗方法所用術語定義以及電絕緣材料相關術語定義見術語標準D1711。
3.2 本標準術語定義:
3.2.1 電容,C,名詞——當導體之間存在電勢差時,導體和電介質(zhì)系統(tǒng)允許儲存電分離電荷的性能。
3.2.1.1 討論——電容是指電流電量 q與電位差V之間的比值。電容值總是正值。當電量采用庫倫為單位,電位采用伏特為單位時,電容單位為法拉,即:
C=q/V ?。?)
3.2.2 耗散因子(D),(損耗角正切),(tanδ),名詞——是指損耗指數(shù)(K'')與相對電容率(K')之間的比值,它還等于其損耗角(δ)的正切值或者其相位角(θ)的余切值(見圖1和圖2)。
D=K''/K' (2)
4 相關ASTM標準,可瀏覽ASTM網(wǎng)站,或與ASTM客服service@astm.org聯(lián)系。ASTM標準手冊卷次信息,可參見ASTM網(wǎng)站標準文件匯總。
5 該歷史標準的較后批準版本參考網(wǎng)站
3.2.2.1 討論——a:
D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp (3)
式中:
G=等效交流電導,
Xp=并聯(lián)電抗,
Rp=等效交流并聯(lián)電阻,
Cp=并聯(lián)電容,
ω=2πf(假設為正弦波形狀)
耗散因子的倒數(shù)為品質(zhì)因子Q,有時成為儲能因子。對于串聯(lián)和并聯(lián)模型,電容器耗散因子D都是相同的,按如下表示為:
D=ωRsCs=1/ωRpCp (4)
串聯(lián)和并聯(lián)部分之間的關系滿足以下要求:
Cp=Cs/(1 D2) (5)
Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2 (6)
4、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入LJD-C),實現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和計算的微處理化,tanδ 測量結(jié)果的獲得無須繁瑣的人工處理,因而提高了數(shù)據(jù)的精確度和測量的同一性,是人工讀值和人工計算*的。
三、主要技術特性及配置
序號 | 構 成 | 型 號 | 數(shù)量 | 制 造 廠 家 |
1 | 主機 | LJD-C | 1臺 | 縱橫金鼎 |
測試裝置(夾具) | S916 | 1臺 | 縱橫金鼎 | |
標準電感 | LKI-1 | 1套 | 縱橫金鼎 | |
2 | 三電極系統(tǒng)(油中、空氣中) 油中帶油槽 | 各1套 | 縱橫金鼎 | |
3 | 油槽 | 1臺 | ||
4 | 日常維修工具 | 1套 | ||
說明書 |
介電常數(shù)測試儀/GB/T1409-2006介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/相對介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗測試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗角正切值測試儀/GB/T1693-2007硫化橡膠高頻介電常數(shù)測試儀/工頻介電常數(shù)測試儀/固體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/液體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/材料介質(zhì)損耗和電容率測試儀/阻抗分析儀/GBT5594.4-2015陶瓷件介電常數(shù)測試儀/ASTM D150-11交流損耗特性和電容率測試儀/介電常數(shù)及介損測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術。
雙掃描技術 - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
計算機自動修正技術和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至z低,** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
二、主要技術特性:
*1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 100KHZ-160MHZ
*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)
3.Q值測量范圍:1~1023
4.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
*5.電感測量范圍:1nH~140mH 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能
*6.電容直接測量范圍:1pF~25nF
7.主電容調(diào)節(jié)范圍: 17~240pF
8.準確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%
9.信號源頻率覆蓋范圍100kHz~160MHz
10.合格指示預置功能范圍:5~1000
11.環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
12.消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
13. S916(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置:
數(shù)顯式微桿,平板電容器:
極片尺寸: 38mm
極片間距可調(diào)范圍:≥15mm
夾具插頭間距:25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
測微桿分辨率:0.001mm
測試極片:材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm
*液體杯:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm
14. 介電常數(shù)測試儀/GB/T1409-2006介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/相對介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗測試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗角正切值測試儀/GB/T1693-2007硫化橡膠高頻介電常數(shù)測試儀/工頻介電常數(shù)測試儀/固體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/液體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/材料介質(zhì)損耗和電容率測試儀/阻抗分析儀/GBT5594.4-2015陶瓷件介電常數(shù)測試儀/ASTM D150-11交流損耗特性和電容率測試儀/介電常數(shù)及介損測試儀電感組LKI-1:
分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。
三、配置:
主機 一臺
電感 九支
夾具 一套
液體杯 一套
隨機文件一套
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